活動概覽
香港清華同學會現誠邀全體在港校友,出席由郭位教授聯合著述的學術專著《納米電子製造中的可靠性與成品率》新書發佈會。本書由國際知名出版社施普林格・自然(Springer Nature)於2026年8月出版,是當前首部系統性銜接納米電子學術研究與產業製造實踐的可靠性與良率專題著作。
著作與嘉賓介紹
本書由香港城市大學榮休校長、終身大學傑出教授、香港高等研究院資深院士郭位教授(Prof. Way Kuo)聯合執筆,融合作者團隊數十年半導體產業經驗與學術積累,創新構建「內建可靠性(BIR)」技術體系,覆蓋晶圓級可靠性測試、AI智能診斷、先進封裝技術、統計製程管制等核心模塊,收錄50項真實產業案例,為納米電子製造的品質提升提供可落地的系統化解決方案。
本次發佈會獲得香港城市大學多個學術部門,以及海內外22家頂尖高校、龍頭企業與創新機構的鼎力支持,包括北京大學、清華大學、復旦大學、電子科技大學等高校電子學科,伯恩光學、北方華創、中華電力、美錦能源等產業機構,以及香港科學園、香港應用科技研究院等創新平台。
活動詳情
- 活動日期:2026年9月3日(星期四)
- 活動時間:上午10:00 – 中午12:00 新書發佈與主題分享;中午12:00起提供簡便午餐
- 活動地點:香港城市大學(確切會場將於報名後透過電郵通知)
- 參與對象:在港清華校友
報名方式
請有意參與的校友於2026年8月27日(星期四)18:00前,將報名信息發送至本會秘書處郵箱:info@tsinghua.org.hk,郵件主題格式建議:「納米電子新書發佈會報名-姓名」,報名需提供以下信息:
- 真實姓名;
- 清華學籍信息(學院 / 系所、入學年份、學歷層次);
- 在港任職單位及職務;
- 聯絡電話;
- 微信號;
- 常用電郵地址;
- 參與人數(是否攜伴,請備註攜伴人數)
注意,提交報名後,我們將於活動前透過電郵回覆確認報名結果,請留意郵箱通知。活動名額有限,將以郵件確認為準。
相關鏈接
圖書官方介紹頁:https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-032-23190-1

如有任何疑問,可聯繫香港清華同學會秘書處。
香港清華同學會
2026年8月23日